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Camtek晶圆光学检测AOI
产品描述AOI,Automatic Optic Inspection的缩写,即自动光学检测,利用普通光线和激光配合电脑程序,对半导体制造中不同阶段进行平面性外观视觉检验,以代替人工目检的光学设备。
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CAMTEK 自动光学检验AOI设备 MEMS
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CAMTEK 自动光学检验AOI设备 表面检查
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硅晶圆检测仪SIT-200
SIT-200 硅晶圆检测仪是Alnair Labs 公司采用高速扫频激光器,利用干涉计量的方法设计制造的用于硅晶圆厚度检测的干涉仪。与常规测厚采用宽带光源不同,可调谐激光器具备很高的功率谱
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CAMTEK 自动光学检验AOI设备Fan-out
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半导体晶圆微操作、检验设备
产品概述 说明:此系统是卓立汉光推出的针对半导体晶圆进行微操作、检验的通用开发平台。系统中包括:半导体晶圆装夹单元、半导体晶圆对位单元、机器视觉单元和微操作机械手单元,配套有完整的运动控制系统和机器
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半导体晶圆PL光谱测试系统
面向半导体晶圆检测的光谱测试系统 荧光测试荧光光谱的峰值波长、光谱半宽、积分光强、峰强度、荧光寿命与电子/空穴多种形式的辐射复合相关,杂质或缺陷浓度、组分等密切相关膜厚&反射率&翘曲度通过白光干涉
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CAMTEK 自动光学检验AOI设备 CMOS图像传感器检查
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半导体晶圆拉曼光谱测试系统
半导体晶圆拉曼光谱测试系统R1——应力、组分、载流子浓度面向半导体晶圆检测的拉曼光谱测试系统主要功能:•光穿过介质时被原子和分子散射的光发生频率变化,该现象称为拉曼散射。•拉曼光谱的强度、频移、线宽
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CAMTEK 自动光学检验AOI设备 三维集成电路
Camtek灵活平台利用各种技术解决的复杂步骤3 dic发展和生产的需要。 完全自动化的2 d和3 d测量和缺陷检测能力覆盖产业需求解决产业。
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